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不同尺寸分布的自组织In0.55Al0.45As/Al0.5Ga0.5As量子点的静压光谱
不同尺寸分布的自组织In0.55Al0.45As/Al0.5Ga0.5As量子点的静压光谱
作者:
周伟
张旺
李国华
汪兆平
王占国
陈晔
韩和相
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
In0.55Al0.45As/Al0.5Ga0.5As
量子点
光致发光
静压
摘要:
在15K测量了不同尺寸分布的In0.55A10.45As/Al0.5Ga05As量子点的静压光致发光,静压范围为0-1.3GPa.常压下观察到三个发光峰,分别来源于不同尺寸的量子点(横向直径分别为26、52和62am)的发光.它们的压力系数分别为82、94和98meV/Gpa,都小于In0.55Al0.45As体材料带边的压力系数,特别是尺寸为26nm的小量子点比In0.55Al0.45As体材料带边小17%,并且压力系数随量子点尺寸的变小而减小.理论计算表明有效质量的增大和Γ-X混合是量子点压力系数变小的主要原因,并得到横向直径为26和52nm的小量子点的Γ-X混合势为15和10meV.根据实验还确定In0.55Al0.45As/Al0.5Ga0.5As量子点系统X能带具有Ⅱ类结构,并且估算出价带不连续量为0.15±0.02.
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文献信息
篇名
不同尺寸分布的自组织In0.55Al0.45As/Al0.5Ga0.5As量子点的静压光谱
来源期刊
半导体学报
学科
物理学
关键词
In0.55Al0.45As/Al0.5Ga0.5As
量子点
光致发光
静压
年,卷(期)
2000,(11)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
1092-1098
页数
7页
分类号
O472+.3
字数
4671字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0253-4177.2000.11.010
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
周伟
中国科学院半导体研究所材料科学实验室
88
475
12.0
18.0
2
李国华
中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室
25
99
5.0
9.0
3
韩和相
中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室
8
9
2.0
3.0
4
陈晔
中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室
15
42
4.0
5.0
5
张旺
中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室
8
71
3.0
8.0
6
汪兆平
中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室
3
4
1.0
2.0
7
王占国
2
10
1.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
(0)
参考文献
(2)
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引证文献
(0)
同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
1997(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1998(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2000(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
In0.55Al0.45As/Al0.5Ga0.5As
量子点
光致发光
静压
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
主办单位:
中国电子学会和中国科学院半导体研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-4926
CN:
11-5781/TN
开本:
大16开
出版地:
北京912信箱
邮发代号:
2-184
创刊时间:
1980
语种:
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
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