CCD扫描法检测模具表面缺陷的研究

• 作者: 刘兴占 巩马理 李伦
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: CCD 扫描 表面缺陷
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 测量
• 页码范围: 337-338,341
• 页数: 3页
• 分类号: TN206
• 字数: 1796字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-1582.2000.04.007

摘要

介绍了用由面阵CCD组成的单列阵扫描法测量大型显像管玻壳模具的表面裂纹和砂眼等缺陷.同时还介绍了用软件对图像进行拼接的方法,以及采用分维数理论对灰度值进行分割等数据处理技术,并获得了较好的实验结果.由实验结果表明,该方法的分辨率达到了0.05mm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	巩马理	清华大学精密仪器系	87	803	16.0	23.0
2	刘兴占	清华大学精密仪器系	13	137	7.0	11.0
3	李伦	清华大学精密仪器系	2	70	2.0	2.0