多检测GPC/SEC技术在高分子表征中的应用Ⅴ.PS-PI二嵌段共聚物

• 作者: 卜乐炜 张德震 徐种德 苏诚伟 郝磊 黄怿
• 来源期刊: 功能高分子学报
• 学科: 化学
• 关键词: 体积排斥色谱法 多检测器 表征 PS-PI共聚物 均方末端距 特性粘数
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: O63
• 字数: 1839字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-9357.2000.01.003

摘要

采用体积排斥色谱法/示差折光指数/直角激光光散射/示差粘度三检测联用技术表征PS-PI二嵌段共聚物.计算了共聚物的均方末端距<r2>;验证了不同PS含量的PS-PI共聚物符合普适标定关系.结果表明在25 ℃的条件下,用体积排斥色谱法/示差折光指数/直角激光光散射/示差粘度三检测联用技术直接获得的PS-PI共聚物的特性粘数与用Ho-Duc方程计算得到的特性粘数基本吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张德震	华东理工大学材料工程学院	33	220	9.0	13.0
2	黄怿	华东理工大学材料工程学院	4	18	2.0	4.0
3	苏诚伟	华东理工大学材料工程学院	4	18	2.0	4.0
4	徐种德	华东理工大学材料工程学院	11	412	7.0	11.0
5	卜乐炜	华东理工大学材料工程学院	2	3	1.0	1.0
6	郝磊	华东理工大学材料工程学院	3	3	1.0	1.0