重离子在半导体器件中引起的单粒子效应

• 作者: 侯明东 刘杰 张庆祥 甄红楼 马峰
• 来源期刊: 原子核物理评论
• 学科: 地球科学
• 关键词: 单粒子效应 辐射损伤 软错误 加速器模拟
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 交叉学科
• 页码范围: 165-170
• 页数: 6页
• 分类号: P354.2
• 字数: 5844字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-4627.2000.03.008

摘要

重离子引起的单粒子效应是威胁航天器安全的重要因素之一,利用加速器进行地面模拟是研究单粒子效应的重要手段. 概述了单粒子效应研究的历史和现状,讨论了单粒子效应研究的基本方法,最后简要介绍了在兰州重离子加速器上已开展的单粒子效应研究工作.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘杰	中国科学院近代物理研究所	218	1905	24.0	36.0
2	侯明东	中国科学院近代物理研究所	41	177	7.0	12.0
3	张庆祥	中国科学院近代物理研究所	9	87	5.0	9.0
4	甄红楼	中国科学院近代物理研究所	10	64	4.0	8.0
5	马峰	中国科学院近代物理研究所	2	39	2.0	2.0