针刺对暂时性脑缺血脑内一氧化氮合酶及神经细胞死亡的影响

• 作者: 李荣 程介士 董裕
• 来源期刊: 针刺研究
• 学科: 医学
• 关键词: 脑缺血 针刺 一氧化氮合酶 延迟性神经细胞死亡
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 实验研究
• 页码范围: 8-13
• 页数: 6页
• 分类号: R245
• 字数: 3933字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0607.2000.01.002

摘要

采用暂时性脑缺血再灌注模型和组织化学、TUNEL细胞标记等实验技术,观察神经细胞死亡和一氧化氮合酶(NitricOxideSynthase,NOS)水平的变化.实验结果表明,暂时性脑缺血再灌注时脑内NOS表达显著增加,且引起延迟性细胞死亡,包括坏死与凋亡.电针可明显减少神经细胞坏死,在存活细胞增多的基础上,TUNEL阳性细胞的比例有所增加;与此同时,电针亦使脑内NOS表达显著减弱.提示电针具有神经保护作用,且可能与其下调NOS、减少NO的过量生成有关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程介士	上海医科大学针刺原理研究所医学神经生物学国家重点实验室	6	86	2.0	6.0
2	董裕	上海医科大学针刺原理研究所医学神经生物学国家重点实验室	1	79	1.0	1.0
3	李荣	上海医科大学针刺原理研究所医学神经生物学国家重点实验室	1	79	1.0	1.0