SiO2涂层结构对Cu70Ni30熔体过冷遗传性的影响

• 作者: 杨根仓 邢建东 郭学锋
• 来源期刊: 西安理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: SiO2涂层 涂层结构 Cu70Ni30熔体 过冷遗传性
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 129-132
• 页数: 4页
• 分类号: TG111.4
• 字数: 1893字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4710.2000.02.003

摘要

采用热分析和红外光谱分析法研究了SiO2凝胶薄膜热处理过程中的热失重和结构变化,确定了薄膜在室温～673 K温度区间的分级热处理工艺和玻璃化温度.在熔模铸造壳型内表面基体玻璃涂层上制备了两类无裂纹SiO2薄膜涂层.析晶实验结果表明,第一类薄膜涂层在高温下为方石英,第二类薄膜涂层经1 773 K保温15 min处理后为稳定玻璃态.将深过冷Cu70Ni30合金熔体浇入两种涂层壳型中分别获得了90 K和198 K的过冷度,表明涂层结构对合金熔体过冷遗传性有影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨根仓	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	155	1862	21.0	35.0
2	郭学锋	西安理工大学材料科学与工程学院	91	1570	22.0	35.0
4	邢建东	西安交通大学机械工程学院	183	2196	23.0	35.0