PDP单元真空紫外辐射的测量

• 作者: 朱昌昌 王绪丰 金玉丰
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 等离子体显示板 真空紫外 测量
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 页码范围: 196-200
• 页数: 5页
• 分类号: TN873
• 字数: 2214字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-488X.2000.03.007

摘要

讨论了彩色PDP显示单元工作时VUV的测试原理与方法.通过建立以真空紫外光谱仪和电信号处理接口为核心的专用测试系统,实现了对AC-PDP显示样板的VUV强度和分布进行动态测试.在不同工作压强下,进行了Ne、Xe混合气体PDP显示单元工作状态的测试,得到了VUV辐射曲线,147 nm、152 nm和173 nm三条VUV辐射相对强度的典型值是:30:12:13.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金玉丰	北京大学微电子所	14	60	5.0	6.0
2	朱昌昌		3	40	3.0	3.0
3	王绪丰		2	6	2.0	2.0