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摘要:
研究了宇宙射线对面阵CCD传感器的冲击伤害及产生白疵点的原因,并对宇宙射线冲击的物理现象作了初步的说明.针对生产CCD传感器的单位,给出了实验统计数据,并提出了可供参考的预防措施.
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文献信息
篇名 宇宙射线对面阵CCD器件的伤害及预防措施
来源期刊 光学技术 学科 工学
关键词 宇宙射线 CCD传感器 后产生白疵点
年,卷(期) 2000,(6) 所属期刊栏目 光电技术
研究方向 页码范围 484-485
页数 2页 分类号 O572.1|TN386.5
字数 1592字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1002-1582.2000.06.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林家明 北京理工大学光电工程系 39 380 11.0 18.0
2 杨隆荣 7 106 4.0 7.0
传播情况
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引文网络
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2009(1)
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研究主题发展历程
节点文献
宇宙射线
CCD传感器
后产生白疵点
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学技术
双月刊
1002-1582
11-1879/O4
大16开
北京市海淀区中关村南大街5号
2-830
1975
chi
出版文献量(篇)
4591
总下载数(次)
6
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