组合逻辑多故障诊断

• 作者: 封吉平 梁玉英 蔡金燕 黄允华
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 组合电路 布尔差分 测试生成 故障诊断
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 185-187,192
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2769字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-3365.2000.03.014

摘要

通过对布尔差分法的剖析,得到了组合电路单固定故障测试生成的简化方法.该方法不必进行异或运算,只须求解恒等式就能得到组合逻辑电路的测试矢量.多故障的测试码产生可以对高阶布尔差分经过变换,转化为一阶布尔差分来处理,从而极大地减少了多故障测试生成的计算工作量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	封吉平		40	171	8.0	10.0
2	蔡金燕		144	811	13.0	18.0
3	梁玉英		69	362	10.0	15.0
4	黄允华		21	316	8.0	17.0