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红外无损检测中缺陷边缘信息的自动提取
红外无损检测中缺陷边缘信息的自动提取
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摘要：
讨论二阶导数过零边缘检测方法.针对红外热图象的灰度特性,提出了窄范围二阶导数过零边缘检测用于焊接缺陷的边缘提取,获得了较好的效果.
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期刊影响力
无损检测
主办单位：
中国机械工程学会
上海材料研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1000-6656
CN：
31-1335/TG
开本：
大16开
出版地：
上海市邯郸路99号
邮发代号：
4-237
创刊时间：
1978
语种：
chi
出版文献量（篇）
4436
总下载数（次）
11
总被引数（次）
33350
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