电容过程成像技术的进展

• 作者: 杨五强 王化祥
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 阵列式敏感电极 抗杂散电容C/V转换电路 图像再构算法
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 4-7,11
• 页数: 5页
• 分类号: TH7
• 字数: 2310字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2000.01.002

摘要

本文详细介绍了电容过程成像技术的新进展,其中包括阵列式敏感电极结构设计,具有抗杂散电容影响的高灵敏AC桥电容检测线路以及Landweber迭代算法再构图像,从而使成像系统性能指标明显得到改善.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王化祥	天津大学自动化系	212	2676	24.0	36.0
2	杨五强	英国曼彻斯特理工大学电气与电子工程系	1	102	1.0	1.0