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摘要:
硅器件表面在获得优化的终端设计后,还要采用合适的钝化层和保护材料进行表面保护.应用电荷分离和激光探针测定法研究了硅器件表面保护材料的带电规律,并研讨了对器件表面耐压及高温稳定性的影响,给出了对实际应用具有意义的结果.
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文献信息
篇名 电力电子器件表面保护材料带电规律的研究
来源期刊 电力电子技术 学科 工学
关键词 保护 材料/电力电子器件 表面耐压 表面保护
年,卷(期) 2000,(1) 所属期刊栏目 控制与仿真
研究方向 页码范围 52-54
页数 3页 分类号 TB3
字数 3322字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-100X.2000.01.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐传骧 西安交通大学绝缘研究所 73 961 14.0 28.0
5 董小兵 西安交通大学绝缘研究所 4 8 2.0 2.0
传播情况
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引文网络
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2018(1)
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研究主题发展历程
节点文献
保护
材料/电力电子器件
表面耐压
表面保护
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电力电子技术
月刊
1000-100X
61-1124/TM
大16开
西安朱雀大街94号
52-44
1967
chi
出版文献量(篇)
7330
总下载数(次)
19
总被引数(次)
63577
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
论文1v1指导