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摘要:
研制开发了一种用于压力传感器芯片与101玻璃基座相封接的三元系结晶性低温玻璃焊料,其基本成份为PbO:ZnO:B2O3=58:18:24(%wt).已用DSC分析该玻璃焊料.显示在510℃出现主晶相的熔化吸热峰,其开始熔化温度为445℃.在硅芯片背面制备-过渡层,然后用此低温玻璃焊料将压力传感器芯片与玻璃基座封接在一起.封接温度为530℃,低于铝硅合金相的低共熔温度577℃.用这一封接技术制备的压力传感器有良好的技术性能.热漂移小且能耐沸水、耐油.耐150℃热冲击.封接强度达7MPa.
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文献信息
篇名 压力传感器芯片键合用低温玻璃焊料的研制
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 低温玻璃焊料 硅片封接技术 压力传感器
年,卷(期) 2000,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 36-42
页数 7页 分类号 TN212.9
字数 3695字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2000.01.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙以材 117 1247 18.0 31.0
2 沈今楷 2 28 2.0 2.0
3 姬荣琴 20 329 10.0 18.0
4 常志红 6 54 4.0 6.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
低温玻璃焊料
硅片封接技术
压力传感器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
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