双卡簧片失效分析

• 作者: 樊新民 王建平
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 物理学
• 关键词: 簧片 金相 扫描电镜 失效分析
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 质量控制与失效分析
• 页码范围: 83-85
• 页数: 3页
• 分类号: O4
• 字数: 1421字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2000.02.011

摘要

采用光学金相、扫描电镜、电子探针成分分析和显微硬度测定等方法分析了双卡簧片非正常断裂的原因.在部分双卡簧片折弯处发现有尖锐凹角并有明显微裂纹,裂纹表面有镍和铜,说明裂纹是在成形加工过程中形成.双卡簧片成形时弯角较尖锐并有明显裂纹是导致失效的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	樊新民	南京理工大学材料科学与工程系	68	450	12.0	16.0
2	王建平	南京理工大学材料科学与工程系	10	192	6.0	10.0