AMS重核素测量的入射离子X射线探测法

• 作者: 何明 蒋崧生
• 来源期刊: 原子核物理评论
• 学科: 工学
• 关键词: 入射离子X射线探测 同量异位素鉴别 加速器质谱
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 交叉学科
• 页码范围: 231-234,254
• 页数: 5页
• 分类号: TL816+.1|TL817+.4
• 字数: 2962字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-4627.2000.04.010

摘要

介绍了在加速器质谱学中发展的入射离子X射线的探测技术，以便应用于测定中重同位素的同量异位素鉴别．描述了在中国原子能科学研究院加速器质谱计上建立的入射离子X射线探测装置和实验结果.通过测量入射离子X射线，实现了64Cu测量中对同量异位素64Ni和64Zn的鉴别，以及79Se 测量中对79Br的鉴别．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何明	中国原子能科学研究院核物理研究所	64	202	8.0	11.0
2	蒋崧生	中国原子能科学研究院核物理研究所	13	72	5.0	8.0