反应层厚度对Al2O3/AgCuTi/Ti-6Al-4V接头强度的影响

• 作者: 于治水 吴铭方 祁凯 程晓农 蒋成禹
• 来源期刊: 稀有金属材料与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 陶瓷 钎焊 接头强度 反应层厚度
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 所属期刊栏目: 材料工艺
• 页码范围: 419-422
• 页数: 4页
• 分类号: TG457.1
• 字数: 2651字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-185X.2000.06.015

摘要

通过保持一定钎焊温度,改变钎焊时间得到不同反应层厚度的Al2O3/AgCuTi界面.结合扫描电镜(SEM)和力学试验结果,分析了反应层厚度对Al2O3/AgCuTi/Ti-6Al-4V接头强度的影响.结果表明:厚度为1.5 μm时,接头强度达到最大值125 MPa;厚度小于1 μm,剪切试样沿反应层和Al2O3陶瓷界面断裂;大于3 μm,沿反应层断裂.反应层厚度较薄时,接头强度取决于界面强度和残余应力的大小;反应层厚度较厚时,接头强度取决于反应层自身强度和残余应力的大小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋成禹		21	322	11.0	17.0
2	吴铭方		22	290	12.0	16.0
3	于治水		38	445	13.0	18.0
4	程晓农		9	70	5.0	8.0
5	祁凯		10	129	8.0	10.0