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摘要:
从热疲劳故障的角度论述了倒装芯片底部填充的必要性 ,介绍了倒装芯片底部填充的参数控制.通过正确的底部填充,可提高倒装芯片组装的成品率和可靠性.
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倒装芯片
焊点可靠性
有限元
热循环
应力/应变
疲劳寿命模型
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 倒装芯片底部填充工艺
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 倒装片 可靠性 生产辅料
年,卷(期) 2000,(6) 所属期刊栏目 MT/PCB
研究方向 页码范围 252-254
页数 4页 分类号 TN4
字数 2603字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-3474.2000.06.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 梁凤梅 23 167 8.0 12.0
传播情况
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2018(1)
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研究主题发展历程
节点文献
倒装片
可靠性
生产辅料
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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