光子扫描隧道显微镜测量折射率图象的初步研究

• 作者: 刘伟 吴世法 潘石 简国树
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 光子扫描隧道显微镜 折射率测量
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 反射与折射
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: O435.1
• 字数: 1960字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2000.03.003

摘要

光子扫描隧道显微镜(PSTM: Photon Scanning Tunneling Microscope) 测得的图象不仅与形貌有关, 而且与贯穿整个样品的光学参数有关, 即有可能用它获取样品折射率图象.本文在理想情况下运用多层薄膜理论,分析了PSTM中各种参量(样品层折射率n1, 厚度d1, 入射角θ0)对折射率测量的影响.结果表明在适当的样品厚度d1(d1≤λ/8),能达到较大灵敏度,且无明显假象,结论可供参数设置特别是样品制备时参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	简国树	大连理工大学物理系	25	95	6.0	8.0
2	潘石	大连理工大学物理系	45	254	9.0	13.0
3	刘伟	大连理工大学物理系	133	461	9.0	17.0
4	吴世法	大连理工大学物理系	41	336	10.0	17.0