VXI测试总线系统的电磁兼容分析

• 作者: 冯振声 商书元 李柯
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: VXI测试总线 电磁兼容性 电磁干扰
• 年，卷（期）: 2000,（5）
• 所属期刊栏目: VXI总线技术
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2000.05.003

摘要

介绍了电磁兼容的基本理论和研究目的,阐述了其在电子系统中的重要作用.结合当今流行的VXI测试总线,运用电磁兼容理论和技术,分析了构建VXI 测试系统过程中在电磁兼容方面应注意的一些问题及解决方法,对充分发挥VXI总线测试系统的性能、降低电磁干扰、实现电磁兼容有一定的工程应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李柯		27	93	6.0	8.0
2	冯振声		47	451	11.0	19.0
3	商书元		9	48	4.0	6.0