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摘要:
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2133Mb/s DDR3存储接口的物理设计
DDR3
物理设计
时钟树
布局规划
基于FPGA的DDR SDRAM测试平台设计
DDR SDRAM
FPGA
TCL脚本
测试平台
PyQt5
256×64点阵液晶模块的设计
控制器
驱动器
单片机
液晶模块
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 ATI RADEON256 DDR 64MB深入测试
来源期刊 电脑新时代 学科 工学
关键词 ATI RADEON256 显卡 测试 DDR
年,卷(期) 2000,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 6-9,30
页数 5页 分类号 TP334.706
字数 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
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2000(0)
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研究主题发展历程
节点文献
ATI
RADEON256
显卡
测试
DDR
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电脑新时代
月刊
1009-6795
CN 11-4451/TP
北京海淀区亮甲店130号恩济大厦415室
出版文献量(篇)
787
总下载数(次)
1
总被引数(次)
0
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