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摘要:
为了加深对薄膜电致发光器件的物理性质的理解,本文就相邻介质的粗糙度对器件电气性能的影响了研究。原子力显微镜分析表明:底层的Ta2O5厚度越大,其表面就越粗糙,导致ZnS:Pr,Ce表面的粗糙度增加。更重要的是增加Ta2O5薄膜表面的粗糙度,降低了由Poole-Frenkel电流而产生的初始场强。对ITO-Ta2O5-ZnS:Pr,Ce-A1和ITO-Ta2O5-ZnS:Pr,Ce-Ta2O5-A1
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文献信息
篇名 EL结构的界面粗糙度对器件性能的影响
来源期刊 光电技术 学科 工学
关键词 电致发光器件 薄膜 界面粗糙度
年,卷(期) 2000,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 70-74
页数 5页 分类号 TN383.1
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节点文献
电致发光器件
薄膜
界面粗糙度
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光电技术
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南京市栖霞区华电路1号
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