一种检测互连的IDDQ内建并行测试方法

• 作者: 冯建华 张廷庆 沈绪榜
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 IDDQ测试 并行内建自测试
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文和技术报告
• 页码范围: 442-446
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2960字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2000.04.011

摘要

并行测试是高可靠系统检测的一种有效方法.分析了当前大多数并行测试所采用的技术,针对它们硬件代价高、不易现场检修、复杂性大的不足之处,提出了一种新的检测多芯片模块互连的并行内建自测试IDDQ方法.该方法采用IDDQ监控器代替复杂的验证电路,可完全消除庞大的验证电路,提高系统的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈绪榜		152	962	15.0	25.0
2	张廷庆	西安电子科技大学微电子研究所	9	26	1.0	5.0
3	冯建华		1	0	0.0	0.0