不同气压下SF6间隙击穿通道的比较

• 作者: 邱毓昌 顾温国
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 击穿 SF6 电晕稳定化作用
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 页码范围: 8-10
• 页数: 4页
• 分类号: TM8
• 字数: 1596字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1609.2000.01.002

摘要

研究了不同气压下SF6间隙在直流和冲击电压作用下的击穿通道,并对不同气压下SF6气体的电晕稳定化作用进行了探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱毓昌		228	4719	36.0	54.0
2	顾温国		8	232	6.0	8.0