作者:
原文服务方: 工业仪表与自动化装置       
摘要:
本文给出了一般化虚拟仪器系统结构的模型;通过对PCI/PXI/VXI3种不同总线主要性能的比较,指出了基于3种不同总线的虚拟仪器测试系统的特点及应用领域.
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文献信息
篇名 基于PCI/PXI/VXI总线的虚拟仪器测试系统
来源期刊 工业仪表与自动化装置 学科
关键词 虚拟仪器 总线 PCI PXI VXI
年,卷(期) 2000,(3) 所属期刊栏目 设计与应用
研究方向 页码范围 17-19
页数 3页 分类号 TP391.9
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-0682.2000.03.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 鲍芳 25 474 11.0 21.0
2 冯燕 14 200 6.0 14.0
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研究主题发展历程
节点文献
虚拟仪器
总线
PCI
PXI
VXI
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
工业仪表与自动化装置
双月刊
1000-0682
61-1121/TH
大16开
1971-01-01
chi
出版文献量(篇)
3676
总下载数(次)
0
总被引数(次)
18688
论文1v1指导