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多芯片组件(MCM)可靠性技术探讨
多芯片组件
可靠性
失效机理
粘钢加固钢筋混凝土梁可靠性分析
粘钢
加固
钢筋混凝土
可靠性指标
倒装芯片焊点可靠性的有限元模拟法综述
倒装芯片
焊点可靠性
有限元
热循环
应力/应变
疲劳寿命模型
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 HgCdTe芯片粘接可靠性设计
来源期刊 红外技术 学科
关键词
年,卷(期) 2000,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 29
页数 4页 分类号
字数 3467字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-8891.2000.01.007
五维指标
传播情况
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引文网络
引文网络
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2000(0)
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
出版文献量(篇)
3361
总下载数(次)
13
总被引数(次)
30858
论文1v1指导