电容式套管tanδ测量时表面泄漏影响的分析

• 作者: 温可明 王祖林 麦穗辉
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 学科: 工学
• 关键词: 表面泄漏 介质损耗角正切 误差分析
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: TM216
• 字数: 2569字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8337.2000.06.003

摘要

通过在不同的相对湿度下电容式套管的tanδ的实测值及理论上的分析,说明电容式套管在现场进行验收及预防性试验过程中,因相对湿度偏高而产生表面泄漏电流的影响,并提出了防止测量误差的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王祖林		5	32	4.0	5.0
2	麦穗辉		1	5	1.0	1.0
3	温可明		1	5	1.0	1.0