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摘要:
在建立的理论模型基础之上,定量地分析了EL2能级对GaAs MESFET夹断电压的影响,指出位于本征费米能级以下的EL2能级是影响GaAs MESFET夹断电压大小的主要因素,EL2能级对GaAs MESFET夹断电压的影响程度与EL2能给的缺陷密度呈线性关系。
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淬火
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 EL2能级对GaAs MESFET夹断电压的影响
来源期刊 半导体杂志 学科 工学
关键词 EL2能级 夹断电压 砷化镓 MESFET
年,卷(期) 2000,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 8-13
页数 6页 分类号 TN386
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 夏冠群 中国科学院上海冶金研究所 61 307 9.0 16.0
2 毛友德 合肥工业大学应用物理系 13 29 3.0 5.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
EL2能级
夹断电压
砷化镓
MESFET
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体杂志
季刊
1005-3077
12-1134/TN
16开
天津市河西区陈塘庄岩峰路
1976
chi
出版文献量(篇)
478
总下载数(次)
1
总被引数(次)
1404
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