苹果内部品质的电特性无损检测研究

• 作者: 张立彬 胥芳 贾灿纯 陈子辰
• 来源期刊: 农业工程学报
• 学科: 农学
• 关键词: 苹果 内部品质 电特性 无损检测
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 农产品加工与贮运工程
• 页码范围: 104-106
• 页数: 3页
• 分类号: S6
• 字数: 2476字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-6819.2000.03.030

摘要

利用智能LCR测试仪、圆形平板电极系统和PC计算机及自主开发的水果电特性无损检测软件,用非接触式无损检测方法在线测定了不同内部品质的苹果的电特性的差异.结果表明,在5～100 kHz的频率范围内,有腐烂或损伤的苹果的阻抗比完好的要小,但测试结果受频率漂移影响较大;在33～100 kHz频率范围内,有腐烂或损伤的苹果的相对介电常数比完好的要大,测试频率的变化对相对介电常数基本无影响;损耗因数的变化则无一定的规律性.因此,用相对介电常数来进行水果内部品质的判别是可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈子辰		272	5059	38.0	56.0
2	张立彬		94	1624	26.0	38.0
3	胥芳		67	1166	20.0	33.0
4	贾灿纯		1	95	1.0	1.0