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摘要:
随着半导体工艺向深亚微米发展,与半导体制造工艺有关的因素(如延迟、功耗问题等)严重影响设计结果的性能,因此逻辑综合必须考虑布图要求.该方法将影响性能的底层参数和信息引入逻辑设计中,使得将逻辑设计结果在进行物理实现时满足性能要求.
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规则
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最小覆盖
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最小边覆盖
析取范式
主析取范式
布图规划约束对VLSI设计性能的影响
VLSI
平面布图规划
物理设计
约束
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 布图驱动的逻辑综合技术
来源期刊 中国学术期刊文摘 学科
关键词 VLSI 逻辑电路 逻辑综合 布图 时延驱动
年,卷(期) 2000,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 387-388
页数 2页 分类号
字数 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 边计年 清华大学计算机科学与技术系 50 326 9.0 16.0
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研究主题发展历程
节点文献
VLSI
逻辑电路
逻辑综合
布图
时延驱动
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国学术期刊文摘
半月刊
1005-8923
11-3501/N
北京市海淀区学院南路86号
chi
出版文献量(篇)
9568
总下载数(次)
0
总被引数(次)
1982
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