大分子自组装功能膜的结构及界面层表征

• 作者: 何琳 吕德水 张曦 林贤福 陈志春
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: 红外光谱 X光电子能潜 电镜 顺磁共振 大分子自组装
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 材料综述
• 页码范围: 54-55,60
• 页数: 3页
• 分类号: TB3
• 字数: 3225字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-023X.2000.03.021

摘要

介绍了四种常用分析方法在自组装功能膜结构及其界面层表征中的新进展.红外光谱是常用的结构分析方法,运用掠角反射红外光谱豆衰减全反射红外光谱可以分析自组装薄膜表面、界面结构以及分子链段的取向;XPS分析可以确定薄膜的化学组成;电镜的运用使直接观察体系的形态、形貌成为可能;ESR是研究聚合物在溶液中自组装成胶束过程的有力工具.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林贤福	浙江大学分析测试中心	56	524	12.0	21.0
2	何琳	浙江大学分析测试中心	11	150	5.0	11.0
3	吕德水	浙江大学分析测试中心	14	227	7.0	14.0
4	陈志春	浙江大学分析测试中心	27	332	10.0	17.0
5	张曦	浙江大学分析测试中心	15	22	3.0	3.0