临界电流测量中的影响因素的研究

• 作者: 丁世英 丁旗 任聪 吴希凡 张月蘅 徐政 林风勇 罗虹 邱里
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 253-261
• 页数: 9页
• 分类号: O4
• 字数: 5662字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2000.04.003

摘要

我们采用直流四引线法对银包套的Bi2-xPbxSr2Ca2Cu3Oy(Ag-Bi2223)带材进行了临界电流的测量.研究了外加磁场和电流扫描速度对临界电流的影响.结果表明,电流扫描速度和磁场增加使临界电流减小,并且磁场增加使V-I曲线对加电流速度的敏感程度发生变化.利用电动力学方程和磁通玻璃态蠕动机制对实验结果进行了解释,将磁场、温度、磁通钉扎强度对约化临界电流的影响归结成单一的临界电流参数n的影响,和实验结果符合得比较满意.