75Se和113Sn的KX射线发射几率测量

• 作者: 常永福 张圈世 李伟 阎春光 黎荫铭
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: Si(Li)探测器 效率刻度 X射线发射几率
• 年，卷（期）: 2000,（5）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 422-426
• 页数: 5页
• 分类号: O571.32
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2000.05.007

摘要

用54Mn、57Co、65Zn、85Sr、109Cd、137Cs等核素发射的KX射线和I(KX)/I(γ)比值法在5～40 keV范围内对Si(Li)探测器的效率进行了刻度(不确定度小于2 %).在此基础上,用Si(Li) X射线谱仪系统和HPGe γ射线谱仪系统对核素75Se和113Sn的主γ射线和KX射线进行了测量,获得了75Se和113Sn的KX射线发射几率,并与文献报道值进行了比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常永福		26	70	4.0	6.0
2	李伟		2	9	1.0	2.0
3	张圈世		2	8	1.0	2.0
4	黎荫铭		1	1	1.0	1.0
5	阎春光		2	8	1.0	2.0