利用原子力显微镜探测化学基团间的单键力

• 作者: 王琛 白春礼 魏钟晴
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: 原子力显微镜(术) 粘附力 单键力 自组装单分子膜 Poisson统计
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 综述与专论
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TH74
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2000.04.001

摘要

原子力显微镜(AFM)不仅可用于形貌测量,而且还可在纳米尺度上测量微观组分间的相互作用力.本文简要介绍了AFM的一种令人非常感兴趣的用途--测量和推算单个化学基团对之间的作用力(单键力).单键力的测量和推算涉及AFM针尖的自组装单分子膜的化学修饰和Poisson统计方法的利用,文中概述了测量和推算的步骤和原理.AFM应用范围的拓宽必将促进它的进一步改进和发展.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白春礼	中国科学院化学研究所纳米科学与技术青年实验室	245	1565	16.0	36.0
2	王琛	中国科学院化学研究所纳米科学与技术青年实验室	58	450	12.0	18.0
3	魏钟晴	中国科学院化学研究所纳米科学与技术青年实验室	1	13	1.0	1.0