热压NiAl纳米晶块体材料的HREM观察及EDS分析

• 作者: 叶恒强 周兰章 杨晓云 贺连龙 郭建亭
• 来源期刊: 金属学报
• 学科: 工学
• 关键词: 高分辨电子显微术 纳米尺度成分分析 纳米晶NiAl Al2O3
• 年，卷（期）: 2000,（9）
• 页码范围: 907-912
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.21|TBM6
• 字数: 1508字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0412-1961.2000.09.003

摘要

利用高分辨电镜(HREM)及场发射电镜纳米尺度成分分析技术(EDS分析)研究了机械合金化和真空热压技术制备的纳米NiAl块体材料的微观结构.HREM及EDS分析结果表明在球磨过程中形成第二相粒子Al2O3分布于NiAl晶粒内部或边界上,分布于晶粒边界上的Al2O3对晶界起钉扎作用,有效地抑制晶粒长大;此外,观察到纳米晶粒间存在无序区,这些无序区也是抑制晶粒长大的一个因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭建亭	中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室	191	2106	25.0	34.0
2	周兰章	中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室	65	616	16.0	22.0
3	叶恒强	中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室	56	447	13.0	19.0
4	贺连龙	中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室	25	118	7.0	10.0
5	杨晓云	中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室	6	39	2.0	6.0