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摘要:
论述了完全标定透射电镜像转角所需拍摄的二次曝光电子显微像的数量,推导了由已测的像转角间接计算其它像转角的一般公式.以PHILIPSCM200电镜为实例,说明了测定像转角的基本步骤,并以实例说明怎样利用像转角,把衍射花样的晶体学信息传递给电子显微像.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 透射电镜像转角的测定及应用
来源期刊 分析测试学报 学科 工学
关键词 透射电子显微镜 标定 像转角
年,卷(期) 2000,(5) 所属期刊栏目 研究报告
研究方向 页码范围 27-30
页数 4页 分类号 TN16
字数 2793字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4957.2000.05.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 雷运涛 8 49 2.0 7.0
5 吴杏芳 北京科技大学材料物理系 27 280 9.0 16.0
6 韩顺昌 9 17 2.0 3.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
透射电子显微镜
标定
像转角
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
分析测试学报
月刊
1004-4957
44-1318/TH
大16开
广州市先烈中路100号
46-104
1982
chi
出版文献量(篇)
6306
总下载数(次)
8
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