多元组份薄膜的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法

• 作者: 朱惠彪 潘荫荣 胡幼华
• 来源期刊: 华东师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 蒙特卡罗模拟 电子探针显微定量分析 多元组份薄膜 特征X射线强度
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 页码范围: 50-55
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.9
• 字数: 4476字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5641.2000.03.009

摘要

作者提出了入射电子在多元组份薄膜中所激发出的薄膜中各种元素的包括初次X射线和二次荧光在内的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法.用这一方法模拟计算了多个薄膜样品的特征X射线强度比,得到了与电子探针显微分析仪器测定的实验数据相一致的模拟结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘荫荣	华东师范大学计算机科学系	39	407	12.0	19.0
2	胡幼华	华东师范大学计算机科学系	42	560	13.0	22.0
3	朱惠彪	华东师范大学计算机科学系	2	2	1.0	1.0