纳米界面性能在电介质科学中的应用

• 作者: 何恩广 刘庆峰 尚文宇
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 纳米界面 电介质
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: TM215.014|TM488
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2000.04.009

摘要

本文介绍了纳米科学技术中纳米界面的研究及其与电介质性能的联系,综述了纳米界面为绝缘电介质等基本电介质领域研究提供的新思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘庆峰		15	216	8.0	14.0
2	何恩广		15	162	7.0	12.0
3	尚文宇		12	194	9.0	12.0