击穿抗电装置的容量指标

• 作者: 喻俊志 李建荣 王高 马俊婷
• 来源期刊: 华北工学院测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘材料 介质击穿 抗电试验 容量
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 页码范围: 66-70
• 页数: 6页
• 分类号: TM903.1
• 字数: 3723字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2000.01.014

摘要

目的　根据影响介质击穿的主要因素, 阐述了交流击穿抗电装置的容量指标问题. 方法　在确定击穿抗电装置的容量时, 不仅要考虑到被试样件两极间的等效电容值, 同时还要估计到样件在击穿过程可能产生的最大击穿电流值. 结果与结论　对于某种绝缘材料或者构件, 合理选定抗电击穿装置的容量对正确进行试验是很重要的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王高	华北工学院电子工程系	15	132	6.0	11.0
2	马俊婷	华北工学院电子工程系	4	72	3.0	4.0
3	喻俊志	华北工学院电子工程系	2	15	1.0	2.0
4	李建荣	华北工学院电子工程系	1	0	0.0	0.0