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摘要:
本文对形成室温单电子现象的典型隧道结结构模型利用WKB方法求解薛定谔方程计算其隧穿电流与偏压的关系.本文利用该方法对Au纳米粒子组装体系在室温下的I-V特性进行了计算机模拟,发现结果与实验符合得很好.该方法对于进一步指导纳米电子器件的实验及其原型化有重要意义.
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文献信息
篇名 Au纳米粒子自组装体系的数值模拟
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 纳米粒子 隧穿 WKB
年,卷(期) 2000,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 7-12
页数 6页 分类号 TN405
字数 2629字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2000.01.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡慧芳 长沙铁道学院材料研究所 17 104 3.0 10.0
2 李义兵 长沙铁道学院材料研究所 19 37 3.0 4.0
3 何红波 长沙铁道学院材料研究所 28 66 5.0 6.0
4 周继承 长沙铁道学院材料研究所 19 27 3.0 3.0
传播情况
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引文网络
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2000(0)
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研究主题发展历程
节点文献
纳米粒子
隧穿
WKB
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
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