自组装膜的几何厚度与电化学表观有效厚度

• 作者: 崔晓莉 李俊新 童汝亭
• 来源期刊: 电化学
• 学科: 化学
• 关键词: 自组装膜 膜电容 膜的几何厚度 电化学表观有效厚度
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 417-420
• 页数: 4页
• 分类号: O646
• 字数: 1945字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-3471.2000.04.007

摘要

根据界面双层电容值可用来判定自组膜的存在,也能得到膜的几何厚度;但不能说明自组膜的完美程度.由跨膜电子转移的速度常数,可以得到自组膜的电化学表观有效厚度,并定量描述非电活性的自组膜(单分子层膜或双层膜)中"倒塌"缺陷的程度.二者数值不同但不矛盾,通过计算说明了自组膜中小面积的"倒塌"缺陷决定了跨膜电子转移的速度常数,但对自组膜电容的影响不大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	童汝亭	河北师范大学化学系	43	575	11.0	23.0
2	崔晓莉	复旦大学化学系	42	1222	18.0	34.0
3	李俊新	河北科技大学基础部	12	48	4.0	6.0