Cd1-xZnxTe在高压下的电学性质、状态方程与相变

• 作者: 刘克岳 柳翠霞 王金义 褚君浩 鲍忠兴
• 来源期刊: 高压物理学报
• 关键词: 电阻 电容 状态方程 相变
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 269-272
• 页数: 4页
• 分类号: O521+.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5773.2000.04.006

摘要

在金刚石压砧装置上,采用电阻和电容测量方法研究了Cd1-x ZnxTe(x＝0.04)在室温下、17GPa内的电阻、电容与压力的关系.实验结果表明 ,它在3.1GPa左右和5GPa左右发生了两次电子结构相变,而在3.1GPa以上和5.7GPa左右发生了两次晶体结构相变.同时,还在活塞-圆筒测量装置上研究了Cd1-xZn xTe(x＝0.04)在室温下、4.5GPa内的p-V关系.实验结果表明它在3. 8GPa 左右发生了相变.本工作还给出了它在相变前后的状态方程,以及它的Grüneisen参数γ0、体弹模量B0与B0的压力导数B0'.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	褚君浩	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	103	650	13.0	22.0
2	鲍忠兴	中国科学院物理研究所	8	18	2.0	3.0
6	刘克岳		4	15	2.0	3.0
7	王金义		5	15	2.0	3.0
8	柳翠霞	中国科学院物理研究所	5	12	2.0	3.0