ATLEED对表面结构分析的可靠性研究

• 作者: 谭忠民 邓丙成
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 自动张量低能电子衍射 有效搜寻范围 表面结构
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 页码范围: 75-78
• 页数: 4页
• 分类号: O722
• 字数: 994字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2000.01.015

摘要

研究自动张量低能电子衍射对半导体复杂表面结构的有效搜寻范围,它比金属表面或金属吸附表面的有效搜寻范围要小.利用自动张量低能电子衍射对GaAs(111)-p(2×2)表面空位弛豫模型做了详细分析,理论计算和实验曲线符合得很好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓丙成	华南建设学院基础部	3	2	1.0	1.0
2	谭忠民	华南建设学院环境工程系	1	0	0.0	0.0