铁电液晶SmC*相介电特性的研究

• 作者: 钱祥忠
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 物理学
• 关键词: 复介电常数 角频率 铁电液晶 极化强度
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 85-91
• 页数: 7页
• 分类号: O753.2
• 字数: 2868字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2000.02.002

摘要

建立了铁电液晶SmC*相介电特性的分子理论,求出在外加交变电场作用下液晶系统的自由能密度,得到极化强度〈P-〉和复介电常数ε*的近似表达式.结果表明ε*是外加交变电场的角频率、幅值、温度以及液晶的分子结构参数的函数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钱祥忠	淮南工业学院数理系	8	17	3.0	3.0