EDXRF法测定铀上铝镀层厚度

• 作者: 刘继东 韦孟伏 鲜晓斌
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 无损测定 铀 镀层厚度 X射线荧光
• 年，卷（期）: 2000,（Z1）
• 页码范围: 53-56
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2000.z1.015

摘要

讨论了初级X射线与铝镀层和铀基体物质、铀的特征线与铝镀层之间的相互作用、铀基体的放射性对测量铝厚度的影响程度,提出强度与镀层厚度关系的数学模型,以及在同一数学模型中,根据铝镀层厚度的实际情况分别选用铀的M和L线测定薄样和厚样.采用准直技术对样品的小区域进行测量,然后利用测量的特征线强度结果和工作样品的已知厚度进行最小二乘法回归分析,建立了无损测定铀材料上铝镀层厚度(6～85 μm)的测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦孟伏		28	66	5.0	6.0
2	鲜晓斌		47	280	10.0	12.0
3	刘继东		6	7	2.0	2.0