用地层微电阻率扫描成像测井识别沉积构造特征

• 作者: 吴文圣 王中文 陈钢花 雍世和
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: 地层微扫描测井 沉积构造 特征 模式识别 图像处理
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 处理解释
• 页码范围: 60-63
• 页数: 4页
• 分类号: P631
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2000.01.011

摘要

地层微电阻率扫描测井是新一代成像测井技术的典型代表,具有极高的垂向分辨率,能直观显示井壁地层的微细变化.识别地层的沉积构造特征是FMI图像的一个重要应用,也是分析沉积环境、进行地层划分和对比的重要依据.着重介绍了各种沉积、构造特征(层理构造、层面构造、变形构造、化学成因构造、生物成因构造、断层、褶皱等)在FMI图像上的识别模式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈钢花		11	554	9.0	11.0
2	吴文圣		11	423	9.0	11.0
3	王中文		2	192	2.0	2.0
4	雍世和		3	268	3.0	3.0