电流密度对定向凝固组织中柱状晶间距的影响

• 作者: 吴春京 常国威 王新华 王自东 胡汉起 袁军平
• 来源期刊: 金属学报
• 学科: 工学
• 关键词: 定向凝固 柱状晶间距 电流作用
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 页码范围: 30-32
• 页数: 3页
• 分类号: TG244.3|TF141.6
• 字数: 2442字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0412-1961.2000.01.007

摘要

以M-S理论为基础,导出了在定向凝固过程中电流通过固液界面的情况下,电流密度与柱状晶间距的理论关系式,并对其进行了实验研究.结果表明,电流密度增加时,其柱状晶间距近似呈直线下降的趋势,理论计算与实验结果基本吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王自东	北京科技大学材料学院	145	1008	16.0	25.0
2	吴春京	北京科技大学材料学院	98	868	16.0	26.0
3	胡汉起	北京科技大学材料学院	22	275	7.0	16.0
4	王新华	北京科技大学冶金学院	318	3612	29.0	37.0
5	袁军平		6	76	4.0	6.0
6	常国威	北京科技大学冶金学院	6	107	4.0	6.0