含水树XLPE电缆绝缘的超低频损耗特性研究

• 作者: 王国红 郑晓泉
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 交联聚乙烯电缆 损耗因数 频谱分析 检测
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 30-33
• 页数: 4页
• 分类号: TM247+.1|TQ325.1+2|TM934.33
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2000.04.008

摘要

本文在较宽广的频率范围对XLPE电缆的损耗特性进行了实验研究.通过频谱分析发现,超低频介质损耗因数与电缆绝缘的水树劣化状态相关性较好.进而指出,对电缆实施超低频介质损耗因数检测对于XLPE电缆无损检测技术以及XLPE电缆本身的发展均有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑晓泉		89	1360	21.0	33.0
2	王国红		3	64	3.0	3.0