大型框式线圈下线破压原因分析

• 作者: 耿延辉
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 线圈 主绝缘 击穿
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 36-37
• 页数: 2页
• 分类号: TM21|TB3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2000.03.010

摘要

本文提出了机械损伤和绝缘污染是导致大型框式线圈下线后耐压试验击穿的主要原因及解决办法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	耿延辉		1	0	0.0	0.0