可测试性技术的现状与未来

• 作者: 易晓山 杨拥民 温熙森 胡政
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性 可测试性设计 机内测试
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 专题报告--预测与展望
• 页码范围: 9-12
• 页数: 4页
• 分类号: TB7
• 字数: 4743字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2000.01.003

摘要

可测试性是同可靠性、维修性相并列的一门新型学科和技术,其发展和应用对于提高产品的质量,降低产品的全寿命周期费用具有重要意义.本文介绍了可测试性技术的产生、内涵与关键技术、发展历程及现状,并对其未来发展方向进行了预测.