OBDD在组合逻辑电路测试中的应用研究

• 作者: 吕宗伟 张镭 林争辉
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 组合逻辑电路 故障检测 测试生成 OBDD
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 374-377，394
• 页数: 5页
• 分类号: TN431.2
• 字数: 3456字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-3365.2000.06.003

摘要

由于传统的组合电路测试方法,如D算法、PODEM算法和FAN算法等,在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯,因此严重地影响了算法的效率.而OBDD是一种表示和操纵布尔函数的有效方法,用OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数,可以把反向回溯过程转换为OBDD的satisfiability问题,从而避免了反向回溯过程,加快了故障测试的速度.同时,OBDD在测试矢量集的生成以及necessary assignment的确定中也显示出一定的优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林争辉	上海交通大学大规模集成电路研究所	116	603	12.0	20.0
2	吕宗伟	上海交通大学大规模集成电路研究所	23	116	5.0	10.0
3	张镭	上海交通大学大规模集成电路研究所	17	57	3.0	7.0